Thiết bị tìm kiếm và định vị nguồn phóng xạ đa năng

Model: POSHUK

Hãng sản xuất: Ecotest – Ukraina

Thiết bị tìm kiếm và định vị nguồn phóng xạ đa năng Model: POSHUK

I. GIỚI THIỆU:

Thiết bị tìm kiếm và định vị nguồn phóng xạ đa năng Model: POSHUK được dùng để tìm kiếm và định vị nguồn phóng xạ gamma, beta, alpha và nơtron.

Thiết bị tìm kiếm và định vị nguồn phóng xạ đa năng Model: POSHUK có bộ nhớ tĩnh, có thể lưu tới 4096 giá trị đo. Các giá trị đo đã lưu này có thể đươc xem lại trên màn hình và truyền sang máy tính qua cổng hồng ngoại. Thiết bị sẽ phát tín hiệu thính giác mỗi khi đo được một hạt gamma và beta. Cảnh báo thính giác sẽ được kích hoạt nếu các mức ngưỡng suất liều gamma và nhiễm bẩn beta bị vượt quá. Ống lồng và đèn nền của màn hiển thị sẽ giúp thực hiện các nhiệm vụ ở các điều kiện khác nhau.

II. MỤC ĐÍCH SỬ DỤNG:

Thiết bị tìm kiếm và định vị nguồn phóng xạ đa năng Model: POSHUK được sử dụng để đo suất liều môi trường của bức xạ gamma và tia X (DER), đo liều môi trường của bức xạ gamma và tia X (DE), đo mật độ thông lượng của các hạt beta trên bề mặt, đo mật độ thông lượng của các hạt alpha trên bề mặt, đo mật độ thông lượng của nơtron nhiệt và nơtron nhanh

III. ĐẶC ĐIỂM:

Sử dụng bộ đếm Geiger-Muller
Chỉ thị tương tự cường độ bức xạ
Ghi được tới 4096 kết quả đo trong bộ nhớ tĩnh và có thể truyền sang máy tính qua cổng hồng ngoại
Có thể xem lại các kết quả đo đã lưu trên màn hình
Phát hiện được bức xạ beta mềm
Có thể lập trình các ngưỡng suất liều bức xạ gamma và tia X và mật độ thông lượng hạt beta
Phát tín hiệu thính giác khi đo được các hạt gamma, beta và khi các mức ngưỡng suất liều bức xạ gamma, tia X hoặc mật độ thông lượng hạt beta bị vượt quá
Màn hiển thị có đèn nền
Chỉ thị nhiều mức điện áp pin.

IV. ĐẶC TÍNH KỸ THUẬT:

Dải đo và độ chính xác:
- Đo suất liều bức xạ gamma và tia X: 0.1 µSv/h ~ 2.0 Sv/h
  - Giới hạn sai số đo suất liều với độ tin cậy 0.95:
    - Ở chế độ đo chính xác: ±(15+2/H*(10))%, trong đó H*(10) là giá trị số của suất liều đo được tương đương với µSv/h
    - Ở chế độ tim kiếm: ±(25+2/H*(10))%, ±(15+2/H*(10))%, trong đó H*(10) là giá trị số của suất liều đo được tương đương với µSv/h
- Đo liều bức xạ Gamma và tia X: 1.0 µSv ~ 9 999 mSv; ±15%
- Đo mật độ thông lượng beta (90Sr+90Y): 5 ~ 100 000 hạt/(cm2×phút)
  - Giới hạn sai số đo mât độ thông lượng beta với độ tin cậy 0.95:
    - Ở chế độ đo chính xác: ±(15+200/φβ)%, trong đó φβ là giá trị số của mật độ thông lượng đo được hạt/(cm2×phút)
    - Ở chế độ tìm kiếm: ±(25+200/φβ)%, trong đó φβ là giá trị số của mật độ thông lượng đo được hạt/(cm2×phút)
- Đo mật độ thông lượng của hạt alpha trên bề mặt:
  - Dải đo: 1 – 10⁵ hạt/(cm2×min)
  - Giới hạn sai số đo khi được hiệu chuẩn cho 239Pu với độ tin cậy 0.95: (15+10/А)%, trong đó A là giá trị số của mật độ thông lượng của hạt alpha trên bề mặt đo được
- Đo mật độ thông lượng của nơtron nhiệt và nơtron nhanh
  - Dải đo mật độ thông lượng của nơtron nhiệt : 1 – 10⁵ N/(cm2×phút)
  - Dải đo mật độ thông lượng của nơtron nhanh: 50 – 10⁵ N/(cm2×phút)
  - Giới hạn sai số đo mật độ thông lượng của nơtron nhiệt và nơtron nhanh khi được hiệu chuẩn cho Pu-Be với độ tin cậy 0.95: (20+200/N)%, trong đó N là giá trị số của mật độ thông lượng đo được
Dải năng lượng và sự phụ thuộc năng lượng:
- Gamma và tia X: 0.05 ~ 3.0 MeV; ±25%
- Beta: 0.15 ~ 3.0 MeV
- Alpha: 4.0 – 8.0 MeV
- Nơtron: 0.025 – 14·106 eV
Thời khoảng đo: 2 ~ 5 giây
Tuổi thọ pin: 400 giờ
Nhiệt độ làm việc: 25 ~ +55 °С
Kích thước và trọng lượng:
- Bộ điều khiển: 154 х 86 х 35 mm / 0.5 kg
- Đầu đo gamma: 214 х 80 х 36 mm / 0.6 kg
- Đầu đo beta: 154 х 82 х 43 mm / 0.5 kg